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Application of minimum projection uniformity criterion in complementary designs for q-level factorials

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成果类型:
期刊论文
作者:
Qin, Hong;Wang, Zhenghong*
通讯作者:
Wang, Zhenghong
作者机构:
[Qin, Hong; Wang, Zhenghong] Cent China Normal Univ, Fac Math & Stat, Wuhan 430079, Peoples R China.
[Wang, Zhenghong] South Cent Univ Nationalities, Sch Math & Stat, Wuhan 430074, Peoples R China.
通讯机构:
[Wang, Zhenghong] S
South Cent Univ Nationalities, Sch Math & Stat, Wuhan 430074, Peoples R China.
语种:
英文
关键词:
Discrete discrepancy;uniformity pattern;minimum projection uniformity (MPU);complementary design
关键词(中文):
级设计;均匀性;阶乘;投影;应用;汉明距离;离散偏差;一致性
期刊:
中国高等学校学术文摘·数学
ISSN:
1673-3452
年:
2015
卷:
10
期:
2
页码:
339-350
基金类别:
Acknowledgements The authors greatly appreciate helpful suggestions of the referees that greatly improved the paper. This work was supported in part by the National Natural Science Foundation of China (Grant Nos. 11271147, 11401596).
机构署名:
本校为第一机构
院系归属:
数学与统计学学院
摘要:
We study the complementary design problem, which is to express the uniformity pattern of a q-level design in terms of that of its complementary design. Here, a pair of complementary designs form a design in which all the Hamming distances of any two distinct runs are the same, and the uniformity pattern proposed by H. Qin, Z. Wang, and K. Chatterjee [J. Statist. Plann. Inference, 2012, 142: 1170–1177] comes from discrete discrepancy for q-level designs. Based on relationships of the uniformity pattern between a pair of complementary designs, we propose a minimum...
摘要(中文):
我们学习互补设计问题,它是以它的互补设计的表示一个 q 水平图案的一致性模式。这里,一双互补图案形成任何二不同的跑的所有 Hamming 距离是一样,和 H 建议的一致性模式的一个在图案。Qin, Z. 王,和 K。Chatterjee [J。统计员。Plann。推理, 2012, 142:11701177 ] 为 q 水平图案来自分离差异。基于在一双互补图案之间的一致性模式的关系,我们建议一条最小的设计一致性规则估计并且比较 q 水平阶乘。

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