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一种同步辐射X射线成像用探测器装置及其使用方法

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成果类型:
专利
发明/设计人:
孙向明;韩志慧;孙大明
申请/专利权人:
华中师范大学
专利类型:
发明
语种:
中文
申请时间:
2023.10.27
申请/专利号:
CN202311429928.7
公开时间:
2024.03.12
公开号:
CN117687066A
代理人:
王佩
机构署名:
本校为其他完成单位
摘要:
本发明提供了一种同步辐射X射线成像用探测器装置及其使用方法,包括成像探测部分和读出电子学部分;成像探测部分包含:Topmetal‑II‑像素芯片、芯片绑定板、FC40氟化液、液体塑料装置和铍窗;读出电子学部分包含:PCB读出板A、PCB读出板B、稳压直流电源接口和网线端口;当X射线进入FC40氟化液时,与FC40氟化液中的氟原子发生相互作用,使氟原子中的电子受到激发,电子可以被探测器捕获,并通过读出电路进行信号处理和记录。本发明的有益效果是:能够快速连续采样,具有制作工艺简单,成品率高,且空间分辨率高。

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