ALICE/PHOS前端电子学板的性能测试及分析

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成果类型：

会议论文

作者：

宋子轩;冯伟;王东;张凡;周代翠（周代翠）;...

作者机构：

[周代翠; 黄光明; 宋子轩; 冯伟; 王东; 张凡] 华中师范大学物理科学与技术学院

[周代翠; 黄光明; 宋子轩; 冯伟; 王东; 张凡] 华中师范大学夸克与轻子物理教育部重点实验室

[周代翠; 黄光明; 宋子轩; 冯伟; 王东; 张凡] 湖北工业大学实验实训中心

语种：

中文

关键词：

测试平台;性能测试;统计结果

关键词(英文)：

FEE

年：

2014

页码：

25-29

会议名称：

第十七届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议时间：

2014-08-13

会议地点：

中国甘肃兰州

基金类别：

科技部“973”项目(2013CB837803);国家自然科学基金(11347184,11375071,IRG11221504);华中师范大学重点项目(CCNU13F026);湖北工业大学博士启动项(BSQD13068);夸克与轻子物理教育部重点实验室创新开放基金(QLPL201407)等项目的支持

机构署名：

本校为第一机构

院系归属：

物理科学与技术学院

摘要：

90块最新版本的前端电子学板FEE需要在基于RCU(读出控制单元)的测试平台上进行物理和电子两方面的性能测试。本文详细介绍了FEE板的性能测试方法,通过对大量FEE板的信号增益、APD偏压控制精度和线性度、峰值时间等参数的有效测量,得到高低增益比为16.65-16.95,偏压控制模块对高压的控制精度为0.2V,峰值时间为2.204us的统计结果,满足ALICE/PHOS设计要求,为ALICE实验组

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