Nafion修饰玻碳电极伏安法测定痕量铟

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成果类型：

期刊论文

作者：

向翠丽;费锡明;李俊华;邹勇进

作者机构：

[向翠丽; 费锡明; 李俊华; 邹勇进] 华中师范大学化学学院

华中师范大学化学学院武汉430079

语种：

中文

关键词：

Nafion修饰电极;伏安法;铟

期刊：

分析试验室

ISSN：

1000-0720

年：

2006

卷：

期：

页码：

19-21

DOI：

10.3969/j.issn.1000-0720.2006.02.007

机构署名：

本校为第一机构

院系归属：

化学学院

摘要：

报道了一种用Nafion修饰玻碳电极测定痕量铟的新方法.研究了Na-fion膜的有关特性和测定的条件,当富集时间为5 min时,峰电流与In（Ⅲ）浓度在1×10^-9～1×10^-7mol/L的范围呈良好的线性关系,检出限为1.46×10^-10mol/L.该法用于实际水样中痕量铟的测定,平均回收率为98.4%.

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