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77K基底制备的银薄膜的微观结构和光学性质

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成果类型:
期刊论文
作者:
段金霞;黄新堂;甘仲维;高建明;丁晓夏
作者机构:
华中师范大学物理科学与技术学院,湖北,武汉,430079
[黄新堂; 段金霞; 丁晓夏; 高建明; 甘仲维] 华中师范大学
语种:
中文
关键词:
银薄膜;椭偏仪;纳米微粒;介电常数;微观结构
关键词(英文):
ellipsometer;nanoparticles;dielectric constant;microstructure
期刊:
真空
ISSN:
1002-0322
年:
2003
期:
6
页码:
27-30
基金类别:
湖北省自然科学基金重点项目(2000J001);
机构署名:
本校为第一机构
院系归属:
物理科学与技术学院
摘要:
应用蒸发镀膜方法,分别在室温和液氮温度(77K)玻璃基底上制备了银薄膜样品.对两种样品的微观结构和光学性质进行了对比研究,微观结构应用X射线衍射仪、扫描电子显微镜进行分析,光学性质应用椭圆偏振光谱仪进行研究,测量的光学参数与理论计算的结果基本吻合.比较液氮温度基底上制备的银薄膜与室温基底上制备的银薄膜表面后发现:前种薄膜的表面更均匀、颗粒更小;两种薄膜的光频介电函数实部ε1基本没有差别,前种薄膜的光频介电函数虚部ε2大;前种薄膜的光学吸收增强,吸收峰发生蓝移和宽化.实验结果表明颗粒膜的光学吸收峰的位置依赖于颗粒膜中金属的介电常数和粒子尺寸.
摘要(英文):
The silver films were prepared ot the room and 77K temperature on the glass substrates. The microstructures and optical properties of the films were studied with the XRD, SEM and Ellipsometer respectively. Experimental optical constants are consistent to the theoretic results. Comparing the silver film deposited on the 77K glass substrate with the silver film deposited on the room temperature glass substrate, the surface of the former is smoother, the particles of the surface of the former is smaller, the real parts of optical dielectric functi...

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