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Uniformity Pattern of Asymmetric Fractional Factorials

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成果类型:
期刊论文
作者:
Qin Hong*;Wang Zhenghong*;Chatterjee, Kashinath
通讯作者:
Qin Hong;Wang Zhenghong
作者机构:
[Qin Hong] Cent China Normal Univ, Fac Math & Stat, Wuhan 430079, Peoples R China.
[Wang Zhenghong] South Cent Univ Nationalities, Sch Math & Stat, Wuhan 430074, Peoples R China.
[Chatterjee, Kashinath] Visva Bharati Univ, Dept Stat, Santini Ketan, W Bengal, India.
通讯机构:
[Qin Hong] C
[Wang Zhenghong] S
Cent China Normal Univ, Fac Math & Stat, Wuhan 430079, Peoples R China.
South Cent Univ Nationalities, Sch Math & Stat, Wuhan 430074, Peoples R China.
语种:
英文
关键词:
Lower bound;minimum projection uniformity;orthogonality;projection Lee discrepancy;uniformity pattern
关键词(中文):
均匀性;不对称;阶乘;分数;统一模式;混合水平;投影;低维
期刊:
系统科学与复杂性(英文版)
ISSN:
1009-6124
年:
2016
卷:
29
期:
2
页码:
499-510
基金类别:
supported by the National Natural Science Foundations of China
机构署名:
本校为第一且通讯机构
院系归属:
数学与统计学学院
摘要:
The objective of this paper is to discuss the issue of the projection uniformity of asymmetric fractional factorials. On the basis of Lee discrepancy, the authors define the projection Lee discrepancy to measure the uniformity for low-dimensional projection designs. Moreover, the concepts of uniformity pattern and minimum projection uniformity criterion are proposed, which can be used to assess and compare two and three mixed levels factorials. Statistic...
摘要(中文):
这份报纸的目的是讨论不对称的部分阶乘的设计一致性的问题。根据李差异,作者定义设计李差异为低维的设计图案测量一致性。而且,一致性模式的概念和最小的设计一致性标准被建议,它能被用来估计并且比较二和三混合层次阶乘。一致性模式的统计理由也被调查。

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