版权说明 操作指南
首页 > 成果 > 详情

前端电子学系统板的故障定位研究

认领
导出
Link by 中国知网学术期刊 Link by 维普学术期刊 Link by 万方学术期刊
反馈
分享
QQ微信 微博
成果类型:
期刊论文
作者:
张凡;王东;黄光明(黄光明);周代翠(周代翠
作者机构:
[周代翠; 黄光明; 王东; 张凡] 华中师范大学物理科学与技术学院,夸克与轻子物理教育部重点实验室(华中师范大学),湖北,武汉,430079
语种:
中文
关键词:
前端电子学系统;故障定位;配置机制
关键词(英文):
FPGA
期刊:
核电子学与探测技术
ISSN:
0258-0934
年:
2009
卷:
29
期:
4
页码:
760-763,791
基金类别:
2008CB317106:国家重大基础研究项目 10875081,10575044,10635020:国家自然科学基金 306022:教育部科学技术研究项目 IPT0624:教育部***和创新团队发展计划项目
机构署名:
本校为第一机构
院系归属:
物理科学与技术学院
摘要:
因为最新研发的250块ALICE/PHOS前端电子学FEE系统板的部分器件在无铅焊接中被部分或完全损坏.为了不影响FEE系统性能,准确定位FFE系统板上与FPGA相关的故障,在对ACEX系列FPGA的配置机制进行深入研究的基础上找到了一种定位FEE系统板故障点的方法.文章着重研究了多器件的JTAG配置、基于EPC系列配置器件的PS配置和FPGA的自动重配置等问题.FEE系统板的大量测试和维修结果证明,该定位方法能准确、快速地定位FEE系统板上与FPGA器件相关的故障点.
摘要(英文):
Since some devices on the latest developed 250 ALICE/PHOS Front-end electronics(FEE) system eards had been partly or completely damaged during lead-free soldering. To alleviate the influence on the performance of FEE system and to locate fault related FPGA accurately, we should find a method for locating fault of FEE system based on the deep study of FPGA configuration scheme. It emphasized on the problems such as JTAG configuration of mult-devices, PS configuration based on EPC series configuration devices and auto re-configuration of FPGA. ...

反馈

验证码:
看不清楚,换一个
确定
取消

成果认领

标题:
用户 作者 通讯作者
请选择
请选择
确定
取消

提示

该栏目需要登录且有访问权限才可以访问

如果您有访问权限,请直接 登录访问

如果您没有访问权限,请联系管理员申请开通

管理员联系邮箱:yun@hnwdkj.com